Tính năng chính
Thiết bị SPECS LEEM FE-LEEM P90 AC là Kính hiển vi điện tử năng lượng thấp thế hệ tiếp theo được tích hợp hiệu chỉnh quang sai, hiển thị độ phân giải 2 nm đáng kinh ngạc cho các thí nghiệm kính hiển vi LEEM động. Với thiết bị này, dựa trên thiết kế của Tiến sĩ Rudolf Tromp, có thể quan sát các quá trình ở quy mô nanomet trên các bề mặt trong thời gian thực.
Hướng dẫn thiết kế của SPECS FE-LEEM P90 mục tiêu là nhằm đạt được độ phân giải cao nhất với số lượng phần tử quang điện tối thiểu nhất.
Để đạt được điều này, các electron đến và đi được phân tách bằng một mảng lăng kính từ 90°. Hình học này cho phép điều chỉnh từng bước đơn giản, trực quan tất cả các thông số của ống kính. Lăng kính từ chuyển cả hình ảnh LEEM và mẫu LEED một cách loạn thị, cho phép chuyển đổi thường xuyên giữa hình ảnh thực và nhiễu xạ. Cả hình ảnh và mẫu LEED đều được truyền mà không có tác động tiêu cực của tán sắc màu, mang lại khả năng nhiễu xạ và hình ảnh vượt trội.
Bộ lọc năng lượng tinh vi cho phép chụp ảnh với độ phân giải năng lượng ở mức 250 meV với tác động tối thiểu đến độ phân giải không gian cao của thiết bị.
FE-LEEM P90 được tích hợp vào buồng phân tích mẫu UHV LEEM với các thiết bị để chuẩn bị mẫu và xử lý mẫu ở nhiệt độ cao tại chỗ.
Hiệu suất
| Lateral Độ phân giải | đảm bảo ở mức 3 nm, có thể đạt được mức 1.6 trên (LEEM) |
| Độ phân giải năng lượng | < 250 meV (Quang phổ) |
| Tầm nhìn | 800 nm - 100 µm |
| Áp lực cơ sở | < 2x10-10 mbar |
| Nhiệt độ mẫu | RT - 1500 K |
| Kích thước Spot | < 40 µm - < 200 nm |
| Độ ổn định bên | < 5 nm |
| Khả năng tái tạo bên | < 500 nm |
Hệ thống
| Độ phóng đại | 400x - 5000x |
| Phạm vi năng lượng động học | 0-1000 eV |
| Điện áp | 2 keV - 15 keV |
| Súng Electron | Súng phát xạ trường lạnh |
Phụ kiện
| Bộ lọc năng lượng | Lăng kính từ tính 90° |
| Khe/Khẩu độ | Độ tương phản thích hợp và khẩu độ trường |
| Chứa mẫu | SPECS SH2/12 |
| Chỉnh quang sai | Lăng kính từ 90° được bổ sung với mức quang học đã được hiệu chỉnh |
AC FE-LEEM P90 Double Stage Results
This application note shows results obtained with the SPECS FE-LEEM P90, measured at the Kamerlingh Onnes Laboratory at the University of Leiden in April 2011. The sample is graphene on SiC.
The crystallinity of graphene flakes and their orientation with respect to the Cu(111) substrate are investigated by means of low-energy electron microscopy (LEEM). The interplay between graphene and the metal substrate during…
Generally, it is supposed that the Fermi level in epitaxial graphene is controlled by two effects: p-type polarization doping induced by the bulk of the hexagonal silicon carbide (SiC)(0001) substrate and overcompensation by…
Charge transport measurements form an essential tool in condensed matter physics. The usual approach is to contact a sample by two or four probes, measure the resistance and derive the resistivity, assuming homogeneity within the…
CÁM ƠN BẠN ĐÃ GHÉ THĂM WEBSITE MỚI CỦA CHÚNG TÔI!
