Menu
American

American

Viet Nam

Viet Nam

Tìm kiếm
Tìm kiếm
Menu
Loading...

Giới thiệu khối phổ ion thứ cấp SIMS

Kỹ thuật SIMS cung cấp sự kết hợp độc đáo giữa hình ảnh độ phân giải cao và phân tích nguyên tố cực nhạy với tất cả các nguyên tố từ Hydro đến Uranium trở lên (giới hạn phát hiện xuống tới mức ppb đối với nhiều nguyên tố), hình ảnh có độ phân giải xuống tới 40 nm và nền rất thấp cho phép dải động học cao. Bản chất của kỹ thuật này là "phá hủy" (phún xạ vật liệu). Nó có thể được áp dụng cho bất kỳ loại vật liệu rắn nào (chất cách điện, chất bán dẫn, kim loại) mà chỉ cần có thể được giữ trong chân không.

CAMECA: dẫn đầu thế giới về SIMS
Kể từ khi tiên phong về quang phổ khối ion thứ cấp vào những năm 1960, CAMECA đã phát triển một dòng sản phẩm SIMS hoàn chỉnh. Mỗi công cụ cao cấp của chúng tôi đảm bảo hiệu suất tốt nhất cho một ứng dụng nhất định.

Để tìm hiểu thêm:
Tải xuống SIMS tutorial của chúng tôi : bạn sẽ tìm thấy phần giới thiệu thực tế về kỹ thuật này và một số nghiên cứu điển hình.

Sơ đồ của kỹ thuật SIMSNguyên lý SIMS
Khi một mẫu rắn được phún xạ bởi các ion sơ cấp có năng lượng vài keV, một phần nhỏ các hạt phát ra từ đích bị ion hóa là các hạt ion thứ cấp. Phép đo khối phổ ion thứ cấp bao gồm việc phân tích các ion thứ cấp này bằng máy quang phổ khối. Phát xạ ion thứ cấp bởi một bề mặt rắn dưới sự bắn phá ion sơ cấp cung cấp thông tin về thành phần nguyên tố, đồng vị và phân tử của các lớp nguyên tử trên cùng của nó. Số lượng ion thứ cấp sẽ thay đổi rất nhiều tùy theo môi trường hóa học và điều kiện phún xạ (ion, năng lượng, góc). SIMS được công nhận là kỹ thuật phân tích bề mặt nguyên tố và đồng vị có độ nhạy tốt nhất hiện nay. 

Chế độ SIMS động
Trong khi SIMS tĩnh tập trung vào lớp đơn lớp trên cùng , cung cấp hầu hết đặc tính phân tử, thì ở chế độ SIMS động còn cho biết thành phần khối lượng và sự phân bố ở lớp sâu của các nguyên tố vi lượng được nghiên cứu với các lớp sâu nằm trong khoảng từ sub-nm đến hàng chục nm.

Các thiết bị SIMS động được trang bị các chùm ion sơ cấp Oxy và Caesium để tăng cường cường độ ion thứ cấp dương và âm tương ứng. 
Một trong những ứng dụng chính của SIMS động là phân tích phân bố chuyên sâu các nguyên tố vi lượng (ví dụ: tạp chất hoặc chất gây ô nhiễm trong chất bán dẫn). Năng lượng tác động của ion sơ cấp được điều chỉnh tùy thuộc vào độ sâu và độ phân giải độ cần thiết. Năng lượng thấp (xuống tới 150eV) được sử dụng để giảm sự pha trộn nguyên tử do các tầng va chạm cũng như cải thiện độ độ sâu xuống mức dưới nanomet. Năng lượng cao (lên đến 20 keV) được chọn để khảo sát sâu hơn (hàng chục micron), nhanh hơn (tốc độ phún xạ µm trên phạm vi tối thiểu) và để cải thiện giới hạn phát hiện. SIMS động cũng thường được sử dụng cho các phân tích hình ảnh có độ phân giải cao và các phép đo tỷ lệ đồng vị có độ chính xác lớn.

Tất cả các công cụ SIMS của CAMECA đều được tối ưu hóa để phân tích SIMS động.

IMS 7f-AutoIMS 7f-Auto

SIMS hoàn toàn tự động với giới hạn phát hiện vô song, được tối ưu hóa cho các ứng dụng đầy thách thức như thủy tinh, kim loại, gốm sứ, thiết bị dựa trên Si, III-V, II-VI, vật liệu khối, màng mỏng Keep Reading

 

IMS 7f-GEO

IMS 7f-GEO

Thiết bị SIMS nhỏ gọn, thông lượng cao để đo các mẫu địa chất, các đồng vị bền, REE (Các nguyên tố đất hiếm), các nguyên tố vi lượng...Keep Reading

 

 

IMS 1300-HR3

IMS 1300-HR³ - Large Geometry SIMS

Đầu dò SIMS multicollector lớn với hiệu suất phân tích vô song cho các ứng dụng khoa học địa chất: đồng vị ổn định, nguyên tố vi lượng, địa thời học, phân tích hạt...Keep Reading

 

NanoSIMS 50L

NanoSIMS 50L

Đầu dò micro SIMS để phân tích tính năng siêu mịn trong khoa học vật liệu, địa chất, trái đất và khoa học sự sống. Keep Reading

 

 

ACTINIS

ACTINIS - Shielded Ion Microprobe

Máy phân tích SIMS được bảo vệ dành cho nghiên cứu và công nghiệp hạt nhân: phân tích an toàn, độ chính xác cao đối với các vật liệu có tính phóng xạ. Keep Reading

Khối phổ ion thứ cấpSIMSCamecakhối phổkhối phổ ionChất bán dẫnKhoa học trái đấtKhối phổ ion thứ cấp - SIMSđịa chấtkhoa học trái đấtkhoa học đời sốngnghiên cứu vật liệucông nghiệpđiện tử & bán dẫnnăng lượnghoá thạchhạt nhân
  • Chia sẻ qua viber bài: Giới thiệu khối phổ ion thứ cấp SIMS
  • Chia sẻ qua reddit bài:Giới thiệu khối phổ ion thứ cấp SIMS

sản phẩm

Loading...

Sản phẩm liên quan

Giới thiệu khối phổ ion hoá nhiệt

Phép đo khối phổ ion hóa nhiệt (TIMS) sử dụng nhiệt độ để ion hóa nhiệt một mẫu rắn trong phân tích đồng vị.  Một dòng điện chạy qua dây tóc kim loại dẫn điện, trên đó có mẫu, đến nhiệt độ trên 1000°C. Có thể sử dụng các sợi đốt nóng đơn hoặc kép bằng các vật liệu khác nhau, tùy thuộc vào nguyên tố được phân tích đồng vị. 
Xem thêm

Khối phổ ion hoá nhiệt Nu TIMS

TIMS là máy khối phổ ion hóa nhiệt hiện đại, được phát triển với công nghệ đa bộ thu (multicllector) và công nghệ điệu chỉnh độ phân tán chùm ion (variable zooms) đã được chứng minh tính ưu việt của hãng Nu Instruemnts trên thị trường. Nó kết hợp những tiến trong thiết kế, lắp ráp dây tóc, dễ sử dụng và có độ chính xác cao. Hệ thông Zoom được cấp bằng sáng chế độc đáo của chúng tôi đảm bảo căn chỉnh peak hoàn hảo mà không cần phải di chuyển bộ đầu thu. Đầu đếm ion Daly đếm ion tùy chọn, có khả năng đo chính xác các mẫu nhỏ và đồng vị có độ giàu thấp, mang lại độ ổn định và dải động học cao nhất.
Xem thêm

Kính hiển vi micro XRF AttoMap-310

MicroXRF phòng thí nghiệm có độ phân giải cao nhất đạt được kích thước micron một đơn vị số (3-5 µm) với quang học có độ phân giải cao. Độ nhạy dưới ppm cho định lượng xuống tới mức phần triệu (ppm). Cùng với các gói phần mềm linh hoạt của Sigray cho khả năng điều chỉnh năng lượng, tối đa hóa thông lượng và độ nhạy với tối đa 5 quang phổ tia X góc xiên tới khác nhau.  
Xem thêm

Giới thiệu khối phổ Plasma cảm ứng ICPMS

Thiết bị ICP-MS cung từ thu hút vô số người dùng bao gồm các học giả trong lĩnh vực địa hóa học, địa thời gian, khoáng vật học, đá quý, và nhiều ngành khoa học môi trường. Hơn nữa, các khách hàng Công nghiệp quan tâm đến vật liệu hạt nhân và các lĩnh vực phân tích vật liệu được hưởng lợi từ nhiều loại sản phẩm ICP này.
Xem thêm