Khoa học vật liệu

“Amiăng” không phải là một thực thể hóa học đơn lẻ mà là tên gọi của một nhóm gồm sáu polysilicat dạng sợi ngậm nước có trong tự nhiên và bao gồm các sợi nhỏ, siêu nhỏ. Trước đây, amiăng chủ yếu được sử dụng làm vật liệu xây dựng và điều này đã khiến amiăng phát tán trong không khí, đất và nước. Sợi amiăng được phát hiện là cực kỳ độc hại vào nửa đầu thế kỷ XX và việc sử dụng chúng đã bị cấm ở Châu Âu và Hoa Kỳ từ cuối những năm 1980 đến đầu những năm 1990.

Trong khoa học vật liệu, các công cụ kính hiển vi mạnh mẽ có tầm quan trọng hàng đầu vì chúng cung cấp những hiểu biết chi tiết về bản chất phức tạp của vật liệu ở quy mô vi mô. Trong số các công cụ như vậy, kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) nổi bật là một kỹ thuật mạnh mẽ vượt qua những hạn chế của các phương pháp truyền thống bằng cách cung cấp hình ảnh và đặc tính có độ phân giải cao ở cấp độ nano.Trong khoa học vật liệu, các công cụ kính hiển vi mạnh mẽ có tầm quan trọng hàng đầu vì chúng cung cấp những hiểu biết chi tiết về bản chất phức tạp của vật liệu ở quy mô vi mô. Trong số các công cụ như vậy, kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) nổi bật là một kỹ thuật mạnh mẽ vượt qua những hạn chế của các phương pháp truyền thống bằng cách cung cấp hình ảnh và đặc tính có độ phân giải cao ở cấp độ nano.

Khoa học vật liệu là một khoa học liên ngành nghiên cứu về mối quan hệ giữa thành phần, cấu trúc, các công nghệ chế tạo, xử lý và tính chất của các vật liệu. Các khoa học tham gia vào việc nghiên cứu chủ yếu là vật lý, hóa học, toán học. Thông thường đối tượng nghiên cứu là vật liệu ở thể rắn, sau đó mới đến thể lỏng, thể khí. Các tính chất được nghiên cứu là cấu trúc, tính chất điện, từ, nhiệt, quang, cơ, hoặc tổ hợp của các tính chất đó với mục đích là tạo ra các vật liệu để thỏa mãn các nhu cầu trong kỹ thuật.

The NanoSIMS is used here to contribute to the understanding of the segregation and diffusion of elements in polycrystalline materials. The strategy is to make use of 18O stable isotope tracers in order to image and quantify the incorporation of oxygen.

Thanks to unique spatial resolution analytical capabilities (subnanometer lateral and depth resolution), the CAMECA Atom Probes perform benchmark atomic scale quantitative analysis in materials: While the distribution of Ge and Sb atoms is homogeneous on the 3D mapping of the as-deposited sample (top left), Ge-enriched areas are clearly visible on the 3D reconstruction of the annealed sample (top right right). Data comparison between the 2 samples reveals the nanoscale phase separation occurring during heat treatment. analysis... ...

In this study, CIGS thin films were prepared on bilayer Mo back contacts and deposited on a soda lime glass (SLG) substrate. The concentration of Na in the CIGS layer was controlled by using samples with and w/o a SiOx film on the SLG substrate. SIMS allowed to characterize the elemental in-depth distribution (matrix species & alkali metals Na and K) in the different CIGS thin films.

This study reports a comparative study of nitrogen-doping in Cu2O. SIMS nitrogen concentration depth profiles of the Cu2O:N films doped with nitrogen plasma show: (i) nitrogen incorporation into the films, (ii) its gradual out diffusion during annealing. Results suggests that to enhance the conductivity of Cu2O:N, one needs to increase the doping level and/or optimize the annealing process to balance the activation and outward-diffusion processes.