Vật liệu mới

Trong khoa học vật liệu, các công cụ kính hiển vi mạnh mẽ có tầm quan trọng hàng đầu vì chúng cung cấp những hiểu biết chi tiết về bản chất phức tạp của vật liệu ở quy mô vi mô. Trong số các công cụ như vậy, kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) nổi bật là một kỹ thuật mạnh mẽ vượt qua những hạn chế của các phương pháp truyền thống bằng cách cung cấp hình ảnh và đặc tính có độ phân giải cao ở cấp độ nano.Trong khoa học vật liệu, các công cụ kính hiển vi mạnh mẽ có tầm quan trọng hàng đầu vì chúng cung cấp những hiểu biết chi tiết về bản chất phức tạp của vật liệu ở quy mô vi mô. Trong số các công cụ như vậy, kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) nổi bật là một kỹ thuật mạnh mẽ vượt qua những hạn chế của các phương pháp truyền thống bằng cách cung cấp hình ảnh và đặc tính có độ phân giải cao ở cấp độ nano.

Newest semiconductor chip manufacturing and further scaling down of CMOS devices push the limits of junction depths below the 10nm range, with a profile steepness of 1-2nm per decade. At such scale, the SIMS technique can be used to monitor in-depth distributions of dopants, proving that SIMS profiles can be measured with a depth resolution better than 1nm per decade.

Mặc dù có các đặc tính hấp dẫn, chẳng hạn như mật độ thấp, độ bền cao và khả năng chống ăn mòn, hợp kim nhôm được áp dụng chậm hơn trong sản xuất bồi đắp (AM) so với thép, hợp kim titan và siêu hợp kim. Cho đến nay, chỉ có một số lượng hạn chế bột nhôm được bán trên thị trường cho AM phù hợp với môi trường đòi hỏi khắt khe, áp lực cao hoặc nhiệt độ cao.

Để thực hiện các thử nghiệm tải cơ học cho các mẫu vật có kích thước từ nanomet đến micron, việc xử lý chùm tia ion tập trung (FIB) và quan sát kính hiển vi điện tử quét (SEM) có tầm quan trọng rất quan trọng. Trong bài báo này, sau lần đầu tiên thảo luận về vai trò của FIB và SEM trong các thí nghiệm nhằm mô tả các tính chất cơ học của mẫu vật siêu nhỏ được chế tạo thông qua các quy trình từ trên xuống, chúng tôi trình bày một nghiên cứu trường hợp từ nhóm nghiên cứu của chúng tôi: thí nghiệm nén căng thẳng được thực hiện trong một SEM với quan sát tại chỗ.