Tin tức và sự kiện

Mới đây, các nhà khoa học của NASA đã thu được những thông tin, con số chính xác hơn về việc nghiên cứu nguồn gốc của hệ mặt trời bằng hệ thống thiết bị Sapphire 1700 Multi-Collector ICP-MS của Nu Instruments là một hệ thống máy phân tích quang phổ khối kết hợp plasma lớn nhất thế giới.

Kính hiển vi lực nguyên tử AFM thương mại bắt đầu vào cuối năm 1980, nơi mà những nhà sản xuất chính tại Mỹ bao gồm Gigital Instruments và Park System. Digital Instruments (DI) được bắt đầu vào năm 1987 bởi Giáo sư Virgil Elings, giáo sư vật lý tại UCSB. Sản phẩm đầu tiên của DI là kính hiển vi quét hầm analog Nanoscope I (phiên bản kỹ thuật số xuất hiện một năm sau đó có tên gọi Nanoscope II). Park Scientific Instruments được bắt đầu vào năm 1988 bởi Tiến sĩ Sang-il Park và Sung Park, người trước đây đã làm việc với Giáo sư Cal Quate từ Đại học Stanford, một trong những tác giả tiên phong của bài báo AFM. Không lâu sau đó, Seiko Instruments Nhật Bản cũng bắt đầu sản xuất AFM của riêng họ.

Quá trình sử dụng kính hiển vi điện tử cần được đảm bảo những yêu cầu về mẫu và môi trường thí nghiệm nhằm đáp ứng được những mong muốn và kì vọng của người thực nghiệm trong quá trình phân tích. Chúng ta cần lưu ý và đảm bảo được các yếu tố trước khi tiến hành thí nghiệm hay sử dụng kính hiển vi điện tử để cho kết quả chính xác nhất đồng thời cũng đáp ứng được các yếu tố khác trong quá trình sử dụng.

Chụp cắt lớp X-Ray Synchrotron cung cấp nguồn năng lượng tia X chất lượng cao để thu nhận cấu trúc bên trong ba chiều của các vật thể thực không phá hủy và với độ phân giải không gian cao từ micromet đến nanomet. Điều này cho phép phân tích cấu trúc vi mô chi tiết của nhiều loại vật liệu khác nhau như các thành phần kỹ thuật nhỏ.

Chụp cắt lớp X-Ray Synchrotron cung cấp nguồn năng lượng tia X chất lượng cao để thu nhận cấu trúc bên trong ba chiều của các vật thể thực không phá hủy và với độ phân giải không gian cao từ micromet đến nanomet. Điều này cho phép phân tích cấu trúc vi mô chi tiết của nhiều loại vật liệu khác nhau như các thành phần kỹ thuật nhỏ.

Phương pháp trắc quang khối là một cách mới để phân tích các phân tử. Nó cho phép đo khối lượng chính xác của các phân tử đơn lẻ trong dung dịch, ở trạng thái tự nhiên và không cần đánh dấu. Phương pháp trắc quang khối mang lại phản hồi nhanh và trực quan trên nhiều ứng dụng mở ra những khả năng mới cho phân tích sinh học và nghiên cứu các chức năng của các phân tử sinh học.

Để thực hiện các thử nghiệm tải cơ học cho các mẫu vật có kích thước từ nanomet đến micron, việc xử lý chùm tia ion tập trung (FIB) và quan sát kính hiển vi điện tử quét (SEM) có tầm quan trọng rất quan trọng. Trong bài báo này, sau lần đầu tiên thảo luận về vai trò của FIB và SEM trong các thí nghiệm nhằm mô tả các tính chất cơ học của mẫu vật siêu nhỏ được chế tạo thông qua các quy trình từ trên xuống, chúng tôi trình bày một nghiên cứu trường hợp từ nhóm nghiên cứu của chúng tôi: thí nghiệm nén căng thẳng được thực hiện trong một SEM với quan sát tại chỗ.