Methods and theories

Quang phổ hấp thụ tia X (X-ray Absorption Spectroscopy – XAS) là một trong những công cụ mạnh mẽ nhất trong lĩnh vực vật lý chất rắn, hóa học, khoa học vật liệu và năng lượng. Kỹ thuật này cho phép các nhà khoa học phân tích cấu trúc nguyên tử, hóa trị và môi trường cục bộ quanh các nguyên tử trong vật liệu mà không cần chuẩn bị mẫu phức tạp.

Quang phổ quang điện tử tia X (X-ray Photoelectron Spectroscopy – XPS) là một kỹ thuật phân tích bề mặt có độ chính xác cao, cho phép xác định thành phần nguyên tố, trạng thái hóa học, và năng lượng liên kết của các nguyên tử trong lớp bề mặt vật liệu (độ sâu khoảng 1–10 nm). Kỹ thuật này dựa trên hiện tượng quang điện, trong đó electron bị bật ra khỏi nguyên tử khi vật liệu bị chiếu bởi tia X đơn sắc.

Quang khắc chùm tia điện tử (Electron Beam Lithography – EBL) là một trong những công nghệ tiên tiến nhất trong lĩnh vực chế tạo vi cấu trúc và nano cấu trúc, được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu khoa học và sản xuất vi mạch hiện đại. EBL là một kỹ thuật “maskless lithography”, tức là không cần mặt nạ, cho phép vẽ trực tiếp các mẫu hình cực nhỏ với độ phân giải ở thang nanomet trên bề mặt vật liệu thông qua việc sử dụng chùm tia electron năng lượng cao.

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) is an extremely sensitive surface-based analytical method that uses a pulsed ion beam (Cs or microfocused Ga) to remove molecules from the outermost surface of a sample . Particles are removed from the mono-atomic layers on the surface (secondary ions). These particles are then accelerated into a flight tube called a “flight tube” while their mass is accurately determined by accurately measuring the time it takes them to reach the detector (i.e. time-of -flight). Three operating modes are applied on ToF-SIMS: surface mass spectrometry, surface imaging, and depth profiling. ToF-SIMS' analytical capabilities include:

Các thuật ngữ khoa học thường được sử dụng thay thế cho nhau và các mô tả được khoa học chấp nhận liên tục được tinh chỉnh và diễn giải lại, điều này có thể dẫn đến sai sót trong hiểu biết khoa học. Mặc dù không thể loại bỏ hoàn toàn những lỗi như vậy, nhưng chúng có thể được giảm thiểu bằng cách làm cho chúng ta biết về chúng, hiểu rõ hơn về thuật ngữ và sử dụng các phương pháp khoa học cẩn thận và chu đáo. Điều này chắc chắn đúng khi hiểu về quang phổ và phép đo phổ, mặc dù giống nhau nhưng không giống nhau. Với suy nghĩ này, chúng ta hãy xem xét sâu hơn các thuật ngữ này.

A non-metallic clean room used in the analysis of ultra-trace elements and radioactive isotopes using equipment such as ICP-MS mass spectrometry for the analysis of U, Th isotopes and ultra-trace elements in biological tissues and fluids, semiconductor materials...

Commercial AFM atomic force microscopy began in the late 1980s, where the main manufacturers in the US included Gigital Instruments and Park System. Digital Instruments (DI) was started in 1987 by Professor Virgil Elings, professor of physics at UCSB. DI's first product was the analog scanning tunneling microscope Nanoscope I (a digital version appeared a year later called Nanoscope II). Park Scientific Instruments was started in 1988 by Dr. Sang-il Park and Sung Park, who had previously worked with Professor Cal Quate from Stanford University, one of the pioneering authors of the AFM paper. Not long after, Seiko Instruments Japan also started producing their own AFM.